Filmetrics 薄膜測厚儀
2016/8/17
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Filmetrics 薄膜測厚儀
Filmetrics F40 薄膜測厚儀結合顯微鏡的薄膜測量系統
Filmetrics的精密光譜測量系統讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學常數，通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內就可測量結果。
當測量需要在待測樣品表面的某些微小限定區域進行，或者其他應用要求光斑小至1微米時，F40是的選擇。使用先前足部校正顯微鏡的物鏡，再進行測量，即可獲得的厚度及光學參數值。只要透過Filmetrics的C-mount連接附件，F40就可以和市面上多數的顯微鏡連接使用。C-mount上裝備有CCD攝像頭，可以讓用戶從電腦屏幕上清晰地看到樣品和測量位置。
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